SJH 1551-1979 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 1551-1979 | 199 | SJ 1551-1979 | [PDF]天数 <=2 | 硅外延层电阻率测试方法（电容-电压法）(暂行) |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 1551-1979 (SJ1551-1979) |
| 中文名称 | 硅外延层电阻率测试方法（电容-电压法）(暂行) |
| 英文名称 | Method of measurement for resistivity of silicon epitaxial layer (capacitance-voltage method) (Provisional) |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | H81 |
| 字数估计 | 5,520 |
| 实施日期 | 6/1/1980 |
| 标准依据 | 工科(2010)第77号 |
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