SJH 20348-1993 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 20348-1993 | 559 | SJ 20348-1993 | [PDF]天数 <=3 | 低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 20348-1993 (SJ20348-1993) |
| 中文名称 | 低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法 |
| 英文名称 | Methods of far-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | M51 |
| 字数估计 | 14,174 |
| 发布日期 | 5/11/1993 |
| 实施日期 | 7/1/1993 |
| 引用标准 | SJ 2534.4-85; SJ 20347-93 |
| 范围 | 本标准规定了在天线测试场内, 对低副辧平板裂缝天线(以下简称为天线)的方向图、增益等性能远场测试方法。本标准适用于副辧平优于-25dB的线极化平板裂缝天线的性能远场测试, 对由非波导裂缝的其他辐射单元所组成的, 具有一般副辧平、低副辧电平的线极化平面阵列天线性能远场测试亦可参照使用。 |
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