SJH 20844-2002 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 20844-2002 | 519 | SJ 20844-2002 | [PDF]天数 <=3 | 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 20844-2002 (SJ20844-2002) |
| 中文名称 | 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法 |
| 英文名称 | Test method for microzone homogeneity of semi-insulating monocrystal gallium arsenide |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | H83;L90 |
| 字数估计 | 13,166 |
| 发布日期 | 2002-10-30 |
| 实施日期 | 2003-03-01 |
| 引用标准 | GJB 1927-94; GB/T 17170-1997; SJ 20635-1997 |
| 范围 | 本标准规定了半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性测量方法。本标准适用于半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性的测定。 |
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