SJH 2327-1983 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 2327-1983 | 479 | SJ 2327-1983 | [PDF]天数 <=3 | 低温试验设备通用技术条件 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 2327-1983 (SJ2327-1983) |
| 中文名称 | 低温试验设备通用技术条件 |
| 英文名称 | Generic specification for low temperature test chambers |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L99 |
| 字数估计 | 12,176 |
| 发布日期 | 4/11/1983 |
| 实施日期 | 10/1/1983 |
| 范围 | 本标准规定了电工、电子产品进行低温试验所用设备的技术条件, 能满足GB 2423.1-81《电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法》对试验设备(以下简称设备)的要求。 |
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