SJ/T 10167-1991 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ/T 10167-1991 | 529 | SJ/T 10167-1991 | [PDF]天数 <=3 | 电子设备密封结构试验方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 10167-1991 (SJ/T10167-1991) |
| 中文名称 | 电子设备密封结构试验方法 |
| 英文名称 | Test methods of densification structure for electronic equipments |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L94 |
| 字数估计 | 15,150 |
| 发布日期 | 4/2/1991 |
| 实施日期 | 7/1/1991 |
| 引用标准 | SJ/T 10166 |
| 范围 | 本标准规定了电子设备密封结构壳体的密封试验方法。 本标准适用于密封壳体的水密封、尘密封、气密封试验。 |
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