SJ/T 10457-1993 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ/T 10457-1993 | 199 | SJ/T 10457-1993 | [PDF]天数 <=2 | 俄歇电子能谱术深度剖析标准导则 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 10457-1993 (SJ/T10457-1993) |
| 中文名称 | 俄歇电子能谱术深度剖析标准导则 |
| 英文名称 | Standard guide for depth profiling in auger electron spectroscopy |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | A42 |
| 国际标准分类 | 31.02 |
| 字数估计 | 5,580 |
| 发布日期 | 12/17/1993 |
| 实施日期 | 6/1/1994 |
| 采用标准 | ASTM E1127-1986, MOD |
| 标准依据 | 工科(2010)第77号 |
| 范围 | 本标准导则适用于采用磨角与截面法、球坑法、离子溅射法、非破坏性深度剖析法进行俄歇电子能谱术深度剖析。本标准导则可能涉及有害的物品、操作及设备。但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前, 应该制定适当的安全与保健措施, 并确定本导则的应用范围。 |
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