SJ/T 10736-1996 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ/T 10736-1996 | 679 | SJ/T 10736-1996 | [PDF]天数 <=5 | 半导体集成电路 HTL电路测试方法的基本原理 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 10736-1996 (SJ/T10736-1996) |
| 中文名称 | 半导体集成电路 HTL电路测试方法的基本原理 |
| 英文名称 | Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for HTL circuits |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L56 |
| 字数估计 | 17,161 |
| 实施日期 | 1/1/1997 |
| 旧标准 (被替代) | GB 3440-1982 |
| 采用标准 | IEC 147-2, NEQ |
| 标准依据 | 工科(2010)第77号 |
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