SJ/T 2749-2016 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ/T 2749-2016 | 789 | SJ/T 2749-2016 | [PDF]天数 <=5 | 半导体激光二极管测试方法 |
| SJ 2749-1987 | 759 | SJ 2749-1987 | [PDF]天数 <=5 | 半导体激光二极管测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 2749-2016 (SJ/T2749-2016) |
| 中文名称 | 半导体激光二极管测试方法 |
| 英文名称 | (The semiconductor laser diode test) |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L53 |
| 字数估计 | 34,367 |
| 发布日期 | 2016-01-15 |
| 实施日期 | 2016-06-01 |
| 旧标准 (被替代) | SJ 2749-1987 |
| 标准依据 | Ministry of Industry and Information Technology Bulletin 2016 No.3 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了半导体激光二极管的光学、电学和热学参数的测试方法。适用于带或不带尾纤的半导体激光二极管。 |
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