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[PDF] GB/T 15651.13-2026 - 英文版

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	状态
GB/T 15651.13-2026	英文版	374	GB/T 15651.13-2026	[PDF]天数 >=4	半导体器件第5-13部分：光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验	有效

基本信息
标准编号	GB/T 15651.13-2026 (GB/T15651.13-2026)
中文名称	半导体器件第5-13部分：光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验
英文名称	Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	L53
国际标准分类	31.080.99
字数估计	18,172
发布日期	2026-02-27
实施日期	2026-06-01
发布机构	国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

GB/T 15651.13-2026: 半导体器件第5-13部分：光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验 ICS 31.080.99 CCSL53 中华人民共和国国家标准半导体器件第5-13部分:光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验 (IEC 60747-5-13:2021,IDT) 2026-02-27发布 2026-06-01实施国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会发布目次前言 Ⅲ 引言 Ⅳ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 测试装置 2 4.1 通则 2 4.2 测试夹具 2 4.3 测试设置 2 5 测试气体 3 6 预处理 3 6.1 概述 3 6.2 吸湿处理 3 7 测试方法 4 7.1 初始检测 4 7.2 试验程序 4 7.3 最终检测 4 8 规定细节 4 附录A(资料性) 预测特定条件下光通量和辐射通量的衰减 6 A.1 硫化氢腐蚀试验与室内腐蚀类别的对应关系 6 A.2 本腐蚀试验结果与现场环境腐蚀的对应关系(示例) 6 附录B(资料性) 银试验样品质量增加测试方法 8 B.1 目的 8 B.2 方法 8 B.3 银试验样品 8 B.4 如何放置银试验样品 8 附录C(资料性) 监测腐蚀用的银试验样品 9 C.1 试验样品 9 C.2 制备 9 附录D(资料性) 测试环境中气体浓度设定 10 D.1 概述 10 D.2 各种气体浓度没有规定范围的原因 10 D.3 实际试验的应用 10 参考文献 11 前言本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件是GB/T 15651的第5-13部分。GB/T 15651已经发布了以下部分: ---半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件(GB/T 15651-1995); ---半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性(GB/T 15651.2- 2003); ---半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法(GB/T 15651.3-2003); ---半导体器件分立器件第5-4部分:光电子器件半导体激光器(GB/T 15651.4-2017); ---半导体器件第5-5部分:光电子器件光电耦合器(GB/T 15651.5-2024); ---半导体器件第5-6部分:光电子器件发光二极管(GB/T 15651.6-2023); ---半导体器件第5-7部分:光电子器件光电二极管和光电晶体管(GB/T 15651.7-2024); ---半导体器件第5-13部分:光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验(GB/T 15651.13- 2026)。本文件等同采用IEC 60747-5-13:2021《半导体器件第5-13部分:光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验》。本文件做了下列最小限度的编辑性改动: ---全文将浓度单位“ppm”更改为“10-6vol/vol”。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出并归口。本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、广东省凯诺标准检测有限公司、浙江智菱科技有限公司、华南理工大学、杭州英诺维科技有限公司、广州赛西标准检测研究院有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司、广东金鉴实验室科技有限公司。本文件主要起草人:杨旭东、张玉芹、刘秀娟、吴杜雄、许子愉、李宗涛、李俊凯、李家声、吕天刚、林凯旋。引言 GB/T 15651是半导体光电子器件的系列标准,主要规定了光电子器件的总体要求、基本额定值和特性、测试方法、半导体激光器、光电耦合器、发光二极管、光电二极管和光电晶体管等器件的技术要求、质量保证规定等内容,拟由以下13个部分构成。 ---第5部分:光电子器件。目的在于给出半导体光电子发射器件、半导体光敏元器件、内部工作机理与光辐射有关的半导体器件和分类型器件的标准。 ---第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性。目的在于给出半导体光电子发射器件、半导体光电探测器件、半导体光敏器件、内部进行光辐射工作的半导体器件及分类为光电子器件的基本额定值和特性,用于光纤系统或子系统的除外。 ---第5-3部分:光电子器件测试方法。目的在于给出光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。 ---第5-4部分:光电子器件半导体激光器。目的在于给出半导体激光器的基本额定值、特性和测试方法。 ---第5-5部分:光电子器件光电耦合器。目的在于给出光电耦合器的术语、基本额定值、特性、安全试验及测量方法。 ---第5-6部分:光电子器件发光二极管。目的在于给出发光二极管的术语、额定值和特性、测试方法和质量评估方法。 ---第5-7部分:光电子器件光电二极管和光电晶体管。目的在于给出光电二极管和光电晶体管的术语、基本额定值和特性以及测量方法。 ---第5-8部分:光电子器件发光二极管光电效率的试验方法。目的在于给出发光二极管的光电效率试验方法。 ---第5-9部分:光电子器件发光二极管基于温度相关的电致发光的内量子效率测试方法。目的在于给出发光二极管的内量子效率测试方法。 ---第5-10部分:光电子器件发光二极管基于室温参考的内量子效率测试方法。目的在于给出发光二极管基于室温的内量子效率测试方法。 ---第5-11部分:光电子器件发光二极管辐射和非辐射电流的测试方法。目的在于给出发光二极管的辐射和非辐射电流的测试方法。 ---第5-12部分:光电子器件发光二极管 LED效率的测试方法。目的在于给出LED效率的测试方法。 ---第5-13部分:光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验。目的在于给出LED封装的硫化氢腐蚀试验。半导体器件第5-13部分:光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验 1 范围本文件为评价因硫化氢导致的发光二极管(LED)封装银和银合金变色提供了一种加速试验方法, 目的是确定银和银合金变色对LED封装光通量和辐射通量维持率的影响提供相关信息。此外,该试验方法能够为LED封装的电性能因受到银和银合金腐蚀的影响提供相关信息。试验的目的是确定硫化氢气体对LED封装材料的影响: ---银或银合金; ---有其他保护层的银或银合金; ---用银或银合金覆盖的金属。本文件不包含因其他因素退化导致的光通量维持率、辐射通量维持率和电性能(例如,铜或硅酮部件的降解)变化。本文件仅适用于照明应用的LED封装。 2 规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 2423.51-2020 环境试验第2部分:试验方法试验 Ke:流动混合气体腐蚀试验 (IEC 60068-2-60:2015,IDT) guidance) 注:GB/T 2421-2020 环境试验概述和指南(IEC 60068-1:2013,IDT) 注:GB/T 15651.6-2023 半导体器件第5-6部分:光电器件......

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