搜索结果: GB/T 19922-2005, GB/T19922-2005, GBT 19922-2005, GBT19922-2005
| 标准编号 | GB/T 19922-2005 (GB/T19922-2005) | | 中文名称 | 硅片局部平整度非接触式标准测试方法 | | 英文名称 | Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | H17 | | 国际标准分类 | 77.040.01 | | 字数估计 | 10,193 | | 发布日期 | 2005-09-19 | | 实施日期 | 2006-04-01 | | 采用标准 | ASTM F1530-1994, MOD | | 标准依据 | Announcement of Newly Approved National Standards No. 12 of 2005 (No. 86 overall) | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | ......
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