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GB/T 26074-2010 相关标准英文版PDF

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GB/T 26074-2010 英文版 209 GB/T 26074-2010 [PDF]天数 <=3 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 GB/T 26074-2010 有效
基本信息
标准编号 GB/T 26074-2010 (GB/T26074-2010)
中文名称 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
英文名称 Germanium monocrystal -- Measurement of resistivity -- DC linear four-point probe
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 H17
国际标准分类 77.040.99
字数估计 9,987
发布日期 1/10/2011
实施日期 10/1/2011
标准依据 国家标准批准发布公告2011年第1号(总第166号)
发布机构 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
范围 标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的体电阻率以及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片(简称圆片)的电阻率。

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英文网页English: GB/T 26074-2010

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