搜索结果: GB/T 26225-2010, GB/T26225-2010, GBT 26225-2010, GBT26225-2010
| 标准编号 | GB/T 26225-2010 (GB/T26225-2010) | | 中文名称 | 信息技术 移动存储 闪存盘通用规范 | | 英文名称 | Information technology -- Mobile storage -- General specification of flash disk | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L63 | | 国际标准分类 | 35.240.40 | | 字数估计 | 13,147 | | 发布日期 | 2011-01-14 | | 实施日期 | 2011-05-01 | | 引用标准 | GB/T 191-2000; GB/T 242.1-2008; GB/T 2422-1995; GB/T 2423.1-2008; GB/T 2423.2-2008; GB/T 2423.3-2006; GB/T 2423.5-1995; GB/T 2423.6-1995; GB/T 2423.8-1995; GB/T 2423.10-2008; GB/T 2428.1-2003; GB/T 2829-2002; GB/T 5080.7-1986; GB/T 5271.14-2008; GB 9254-2 | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2011年第2号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了闪存盘的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运物和贮存等相关内容。本标准适用于闪存盘, 其他包含闪存盘功能模块的设备也可参考。 | GB/T 26225-2010
Information technology.Mobile storage.General specification of flash disk
ICS 35.240.40
L63
中华人民共和国国家标准
信息技术 移动存储
闪存盘通用规范
2011-01-14发布
2011-05-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 2
4 要求 2
5 试验方法 4
6 检验规则 6
7 标志、包装、运输和贮存 8
附录A(规范性附录) 故障的分类及判据 9
前言
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国信息技术标准化技术委员会归口。
本标准起草单位:中国电子技术标准化研究所、普天信息技术研究院、联想(北京)有限公司、方正科
技集团股份有限公司、北京华旗资讯数码科技有限公司、深圳市朗科科技有限公司、TCL集团股份有限
公司、常州市音成电子有限公司、北京大恒创新技术有限公司、重庆禾兴江源科技有限公司、上海华虹集
成电路有限责任公司、北京纽曼理想数码科技有限公司、武汉天喻信息产业股份有限公司、浙江欣成达
光电科技有限公司。
本标准主要起草人:王立建、张力、张宇宏、李高强、熊国平、任建强、唐怀飞、李诺、秦柏、江卫强、
谢春生、严小平、杨宇光、熊安艺、徐中强、刘昌魁、石磊、王涛、王元成。
信息技术 移动存储
闪存盘通用规范
1 范围
本标准规定了闪存盘的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等相关
内容。
本标准适用于闪存盘(以下简称“产品”),其他包含闪存盘功能模块的设备也可参考。
2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有
的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T 191-2000 包装储运图示标志(eqv ISO 780:1997)
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GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC 60068-2-
1:2007,IDT)
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC 60068-2-
2:2007,IDT)
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
(IEC 60068-2-78:2001,IDT)
GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第5部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击(idt
IEC 60068-2-27:1987)
GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞(idt
IEC 60068-2-29:1987)
GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验Ed:自由跌落(idt
IEC 60068-2-32:1990)
GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)
(IEC 60068-2-6:1995,IDT)
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