搜索结果: GB/T 45974-2025, GB/T45974-2025, GBT 45974-2025, GBT45974-2025
| 标准编号 | GB/T 45974-2025 (GB/T45974-2025) | | 中文名称 | 精细陶瓷 晶粒尺寸和尺寸分布的测定方法 | | 英文名称 | Fine ceramics - Method for determination of grain size and size distribution | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | Q30 | | 国际标准分类 | 81.060.30 | | 字数估计 | 26,277 | | 发布日期 | 2025-08-01 | | 实施日期 | 2026-02-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | GB/T 45974-2025: 精细陶瓷 晶粒尺寸和尺寸分布的测定方法
ICS 81.060.30
CCSQ30
中华人民共和国国家标准
精细陶瓷 晶粒尺寸和尺寸分布的
测定方法
2025-08-01发布
2026-02-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 意义和用途 2
5 仪器设备 3
5.1 切割设备 3
5.2 固定设备 3
5.3 研磨和抛光设备 3
5.4 腐蚀设备 3
5.5 显微镜 3
5.6 直尺或标尺 4
5.7 圆模板 4
6 样品制备 4
6.1 取样 4
6.2 样品切割 4
6.3 样品固定 4
6.4 研磨和抛光 4
6.5 腐蚀 4
7 显微结构拍摄 4
7.1 通则 4
7.2 光学显微镜拍摄 5
7.3 扫描电子显微镜拍摄 5
7.4 显微结构照片校准 5
8 显微结构测定 5
8.1 通则 5
8.2 方法A1 6
8.3 方法A2 6
8.4 方法B 6
8.5 自动或半自动图像分析 7
9 统计 7
9.1 方法A1 7
9.2 方法A2 8
9.3 方法B 8
10 不确定性分析 8
11 试验报告 9
附录A(资料性) 研磨和抛光程序 11
附录B(资料性) 腐蚀方法 12
附录C(资料性) 光学显微镜中科勒照明设置 13
C.1 目的 13
C.2 定义 13
C.3 科勒照明设置 13
附录D(资料性) 晶粒尺寸分布的测量 14
D.1 方法A2 14
D.2 方法B 14
附录E(资料性) 方法A1的比对试验 15
附录F(资料性) 方法B的比对试验 16
参考文献 17
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件修改采用ISO 13383-1:2012《精细陶瓷(先进陶瓷、先进技术陶瓷) 微观结构表征 第1部
分:晶粒尺寸和尺寸分布的测定》。
本文件与ISO 13383-1:2012的技术差异及原因如下:
---增加了本文件适用范围,适应我国技术条件(见第1章);
---更改了术语的符号,使其更加规范(见3.3、3.4、3.5);
---增加了金刚石磨料粒度,适应我国技术条件,便于试验开展(见5.1);
---增加了使用扫描电子显微镜进行微结构拍照的要求,使试验过程更加严谨(见7.1);
---用规范性引用的GB/T 27025代替了ISO/IEC 17025(见第11章)。
本文件做了下列编辑性改动:
---为与现有标准协调,将标准名称改为《精细陶瓷 晶粒尺寸和尺寸分布的测定方法》;
---增加了平均线性截距晶粒尺寸定义的注(见3.2);
---删除了ISO 13383-1:2012中第4章的注;
---删除了ISO 13383-1:2012中5.1、7.1的注;
---删除了ISO 13383-1:2012中7.4.2和8.5的注;
---删除了ISO 13383-1:2012中第11章的注4;
---删除了ISO 13383-1:2012的附录G(资料性)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中国建筑材料联合会提出。
本文件由全国工业陶瓷标准化技术委员会(SAC/TC194)归口。
本文件起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所、中广核研究院有限公司、山东工业陶瓷研究设计
院有限公司、武汉理工大学、苏州国家实验室、郑州中瓷科技有限公司、国投陶瓷基复合材料研究院
(西安)有限公司、山东国瓷功能材料股份有限公司、厦门钜瓷科技有限公司、深圳职业技术大学、中国国
检测试控股集团股份有限公司、东华大学、上海工程技术大学。
本文件主要起草人:王新刚、王铭、王小飞、薛佳祥、邹冀、陈晓、鲍伟超、李飞、蒋丹宇、陈常祝、赵升升、
吴利翔、刘洋、吴崇隽、鲁慧峰、郭楚楚、王卿、崔明山、万德田、包亦望、吴永庆、崔爽、吕松泽、张国军、
袁建辉、尹维玲、姜维、高建华、李蕾。
精细陶瓷 晶粒尺寸和尺寸分布的
测定方法
1 范围
本文件描述了使用样品抛光并腐蚀后显现出晶界的显微结构照片来测定精细陶瓷晶粒尺寸的手工
测量方法。本方法不能得到真实的平均晶粒尺寸,而是得到一个略小的参数,具体取决于用于分析二维
截面的方法。本方法测定结果与真实晶粒尺寸的关系取决于晶粒形状和微观结构的各向异性程度。本
文件包含两类方法:方法A和方法B。
方法A是平均线性截距法,分为方法A1和方法A2。方法A1适用于单相致密陶瓷,以及主要晶
相和玻璃晶界相体积分数小于约5%的陶瓷,此时截距计数已足够。方法A2适用于孔隙或第二相体积
分数大于约5%的陶瓷,或具有多个主要晶相的陶瓷,此时需要测量单个截距长度,并可选择用于尺寸
分布的测定。方法A2基于区分气孔或物相之间显微结构差异分别计算得到其平均线性截距。
注:ISO 13383-2给出了第二相体积分数的测定方法。
方法B为平均等效圆直径法,该方法适用于所有类型的陶瓷材料(无论是否存在第二相)晶粒尺
寸、晶粒长径比和尺寸分布的测定。
一些用户对显微照片或直接捕获的显微结构图像应用自动或半自动图像分析,只要所采用的技术
模拟人工方法(见第4章和8.4),就满足本文件。
本文件适用于单相陶瓷材料、晶须和(或)颗粒增强的复相陶瓷材料晶粒尺寸和尺寸分布的测定。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
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