搜索结果: GB/T 4937.1-2006, GB/T4937.1-2006, GBT 4937.1-2006, GBT4937.1-2006
| 标准编号 | GB/T 4937.1-2006 (GB/T4937.1-2006) | | 中文名称 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则 | | 英文名称 | Semiconductor devices -- Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L40 | | 国际标准分类 | 31.080.1 | | 字数估计 | 7,791 | | 发布日期 | 2006-08-23 | | 实施日期 | 2007-02-01 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 4937-1995部分 | | 引用标准 | IEC 60050; IEC 60747; IEC 60748 | | 采用标准 | IEC 60749-1-2002, IDT | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2006年第9号(总第96号) | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。当太部分与相应的徉细规范有矛看时。以详细规范为准。 | ......
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