搜索结果: SJH 20719-1998, SJH20719-1998
| 标准编号 | SJ 20719-1998 (SJ20719-1998) | | 中文名称 | 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法 | | 英文名称 | Method of determination X value for mercury cadmium telluride for use in X-ray fluorimetry | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | H82 | | 字数估计 | 6,630 | | 发布日期 | 3/18/1998 | | 实施日期 | 5/1/1998 | | 引用标准 | GJB 1866-94 | | 范围 | 本标准规定了用x-射线荧光法测定碲镉汞晶片的组分X值。本标准适用于X值在0.100～0.35Omol范围内的碲镉汞晶片组分X值定量测定。 | ......
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