搜索结果: SJH 20844-2002, SJH20844-2002
| 标准编号 | SJ 20844-2002 (SJ20844-2002) | | 中文名称 | 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法 | | 英文名称 | Test method for microzone homogeneity of semi-insulating monocrystal gallium arsenide | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | H83;L90 | | 字数估计 | 13,166 | | 发布日期 | 2002-10-30 | | 实施日期 | 2003-03-01 | | 引用标准 | GJB 1927-94; GB/T 17170-1997; SJ 20635-1997 | | 范围 | 本标准规定了半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性测量方法。本标准适用于半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性的测定。 | ......
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