SJH 21475-2018 相关标准英文版PDF

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标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
SJ 21475-2018	英文版	249	SJ 21475-2018	[PDF]天数 <=3	磷化铟单晶片几何参数测试方法	SJ 21475-2018	有效

基本信息
标准编号	SJ 21475-2018 (SJ21475-2018)
中文名称	磷化铟单晶片几何参数测试方法
英文名称	(Indium phosphide single wafer geometric parameter test method)
行业	电子行业标准
中标分类	H83
字数估计	10,199
发布机构	工业和信息化部

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英文网页English: SJH 21475-2018

相关标准: GB/T 29055 | SJ 21477 | SJ 21478 | SJ 21476 |