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收录标准: 222397 (2026-05-14)
SJH 21634-2021 相关标准英文版PDF
搜索结果: SJH 21634-2021, SJH21634-2021
标准号码
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状态
SJ 21634-2021
英文版
619
SJ 21634-2021
[PDF]天数 <=5
半导体集成电路 多节点低电压差分信号电路(M-LVDS)测试方法
SJ 21634-2021
有效
基本信息
标准编号
SJ 21634-2021 (SJ21634-2021)
中文名称
半导体集成电路 多节点低电压差分信号电路(M-LVDS)测试方法
英文名称
(Semiconductor integrated circuits - Multi-node low-voltage differential signaling (M-LVDS) test methods)
行业
电子行业标准
中标分类
L56
国际标准分类
31.200
字数估计
28,283
发布日期
2021-12-27
实施日期
2022-03-01
发布机构
工业和信息化部
......
英文网页English:
SJH 21634-2021
相关标准:
SJ/T 11891
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SJ 21619
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SJ 21651
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SJ 21635
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