搜索结果: SJ/T 10627-1995, SJ/T10627-1995, SJT 10627-1995, SJT10627-1995
| 标准编号 | SJ/T 10627-1995 (SJ/T10627-1995) | | 中文名称 | 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法 | | 英文名称 | Test methods for oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | H82 | | 字数估计 | 5,553 | | 发布日期 | 4/22/1995 | | 实施日期 | 10/1/1995 | | 标准依据 | 工科(2010)第77号 | ......
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