搜索结果: SJ/T 10736-1996, SJ/T10736-1996, SJT 10736-1996, SJT10736-1996
| 标准编号 | SJ/T 10736-1996 (SJ/T10736-1996) | | 中文名称 | 半导体集成电路 HTL电路测试方法的基本原理 | | 英文名称 | Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for HTL circuits | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 字数估计 | 17,161 | | 实施日期 | 1/1/1997 | | 旧标准 (被替代) | GB 3440-1982 | | 采用标准 | IEC 147-2, NEQ | | 标准依据 | 工科(2010)第77号 |
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