搜索结果: SJ/T 10745-1996, SJ/T10745-1996, SJT 10745-1996, SJT10745-1996
| 标准号码 | 内文 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 | 详情 | 状态 |
| SJ/T 10745-1996 |
英文版
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RFQ
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半导体集成电路机械和气候试验方法
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SJ/T 10745-1996
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作废
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| 标准编号 | SJ/T 10745-1996 (SJ/T10745-1996) | | 中文名称 | 半导体集成电路机械和气候试验方法 | | 英文名称 | Mechanical and climatic test methods for semiconductor integrated circuits | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 国际标准分类 | 31.2 | | 字数估计 | 52,517 | | 实施日期 | 1/1/1997 | | 旧标准 (被替代) | GB 4590-1984 | | 采用标准 | IEC 60147-4, MOD; IEC 60147-5, MOD | | 标准依据 | 工科(2010) 第77号 | ......
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