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SJ/T 11703-2018 相关标准英文版PDF

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SJ/T 11703-2018 英文版 139 SJ/T 11703-2018 [PDF]天数 <=3 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法 SJ/T 11703-2018 有效
基本信息
标准编号 SJ/T 11703-2018 (SJ/T11703-2018)
中文名称 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
英文名称 Crosstalk test method for digital microelectronic device packages
行业 电子行业标准 (推荐)
中标分类 L55
字数估计 6,647
发布日期 2018-02-09
实施日期 2018-04-01
标准依据 工业和信息化部公告2018年第10号
发布机构 工业和信息化部
范围 本标准规定了在数字微电子器件封装引出端之间,测试宽带数字信号和噪声交叉耦合水平的方法。

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英文网页English: SJ/T 11703-2018

相关标准: SAMR 76 | SJ/T 11700 | SJ/T 11704 | SJ/T 11699 |