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SJZ2926-1988 相关标准英文版PDF

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SJ/Z 2926-1988 英文版 669 SJ/Z 2926-1988 [PDF]天数 <=4 集成电路制版设备性能测试方法 SJ/Z 2926-1988
基本信息
标准编号 SJ/Z 2926-1988 (SJ/Z2926-1988)
中文名称 集成电路制版设备性能测试方法
英文名称 Test methods for properties of mask-making equipment for manufacturing of ICs
行业 电子行业标准
中标分类 L99
字数估计 19,118
发布日期 3/10/1988
实施日期 10/1/1988
标准依据 工科(2010) 第77号
范围 本指导性技术文件适用于自动刻(绘)图机、图形发生器、精缩照相机三类光学制版设备主要性能测试方法。测试目的在于检查设备的技术性能指标是否达到原设计或使用要求。本指导性技术文件未规定的性能测试方法, 应在各类设备技术文件中另行规定。

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英文网页English: SJZ2926-1988

相关标准: SJ/T 11723 | SJ/T 11723 | SJ/T 11634 | GB/T 5593 |