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YS/T 27-1992 相关标准英文版PDF

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YS/T 27-1992 英文版 199 YS/T 27-1992 [PDF]天数 <=2 晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法 YS/T 27-1992 作废
基本信息
标准编号 YS/T 27-1992 (YS/T27-1992)
中文名称 晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法
英文名称 (Particulate contamination on the wafer surface and the measurement method of counting)
行业 有色冶金行业标准 (推荐)
中标分类 H21
字数估计 3,349
发布日期 3/9/1992
实施日期 1/1/1993
标准依据 发改委公告2005年第45号

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英文网页English: YS/T 27-1992

相关标准: GB/T 1425 | YS/T 581.15 | YS/T 23 | YS/T 15 |