|
标准号码 |
标准名称 |
|
GB/T 13823.10-1995
|
振动与冲击传感器的校准方法 冲击二次校准
|
|
GB/T 13823.11-1995
|
振动与冲击传感器的校准方法 激光干涉法低频振动一次校准
|
|
GB/T 13823.12-1995
|
振动与冲击传感器的校准方法 安装在钢块上的无阻尼加速度计共振频率测试
|
|
GB/T 13823.13-1995
|
振动与冲击传感器的校准方法 光切割法冲击校准(一次校准)
|
|
GB/T 13823.14-1995
|
振动与冲击传感器的校准方法 离心机法一次校准
|
|
GB/T 15478-1995
|
压力传感器性能试验方法
|
|
GB/T 15652-1995
|
金属氧化物半导体气敏元件总规范
|
|
GB/T 15653-1995
|
金属氧化物半导体气敏元件测试方法
|
|
GB/T 15768-1995
|
电容式湿敏元件与湿度传感器总规范
|
|
GB/T 4475-1995
|
敏感元器件术语
|
|
GB/T 13823.7-1994
|
振动与冲击传感器的校准方法 相位比较法振动校准
|
|
GB/T 13823.1-1993
|
振动与冲击传感器的校准方法 基本概念
|
|
GB/T 13823.3-1992
|
振动与冲击传感器的校准方法 正弦激励法校准(二次校准)
|
|
GB/T 13823.6-1992
|
振动与冲击传感器的校准方法 基座应变灵敏度测试
|
|
GB/T 13866-1992
|
振动与冲击测量 描述惯性传感器特性的测定
|
|
GB/T 13189-1991
|
旁热式负温度系数 热敏电阻器总规范
|
|
GB/T 10194-1988
|
电子设备用压敏电阻器 第2部分:分规范 浪涌抑制型压敏电阻器(可供认证用)
|
|
GB/T 10195-1988
|
电子设备用压敏电阻器 第2部分:空白详细规范 浪涌抑制用压敏电阻器 评定水平 E(可供认证用)
|
|
GB/T 7153-1987
|
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)
|
|
GB/T 7154-1987
|
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细规范 评定水平E(可供认证用)
|
|
GB/T 7665-1987
|
传感器通用术语
|
|
GB/T 6663-1986
|
直热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)
|
|
GB/T 6664-1986
|
直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范 评定水平E(可供认证用)
|
|
GB/T 42308-2023
|
电子设备用电位器 第6-1部分：空白详细规范 表面安装预调电位器 评定水平EZ
|
|
GB/T 16515-2023
|
电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转低功率线绕和非线绕电位器
|
|
GB/T 40562-2021
|
电子设备用电位器 第6部分：分规范 表面安装预调电位器
|
|
GB/T 17025-1997
|
电子设备用电位器 第4部分;分规范 单圈旋转功率电位器
|
|
GB/T 17026-1997
|
电子设备用电位器 第4部分;空白详细规范 单圈旋转功率电位器评定水平E
|
|
GB/T 17027-1997
|
电子设备用电位器 第4部分;空白详细规范 单圈旋转功率电位器 评定水平F
|
|
GB/T 17028-1997
|
电子设备用电位器 第5部分;空白详细规范 单圈旋转低功率电位器 评定水平E
|
|
GB/T 17029-1997
|
电子设备用电位器 第5部分;空白详细规范 单圈旋转低功率电位器 评定水平F
|
|
GB/T 16515-1996
|
电子设备用电位器 第5部分;分规范 单圈旋转式低功率线绕和非线绕电位器
|
|
GB/T 15880-1995
|
电子设备用电位器 第3部分;分规范: 旋转式精密电位器
|
|
GB/T 15881-1995
|
电子设备用电位器 第3部分;空白详细规范: 旋转式精密电位器 评定水平E
|
|
GB/T 15298-1994
|
电子设备用电位器 第1部分:总规范
|
|
GB/T 15299-1994
|
电子设备用电位器 第2部分:分规范 螺杆驱动和旋转预调电位器
|
|
GB/T 15300-1994
|
电子设备用电位器 第2部分:空白详细规范 螺杆驱动和旋转预调电位器 评定水平 E
|
|
GB/T 10193-1997
|
电子设备用压敏电阻器 第1部分;总规范
|
|
GB/T 10193-1988
|
电子设备用压敏电阻器 第1部分:总规范(可供认证用)
|
|
GB/T 2471-2024
|
电阻器和电容器优先数系
|
|
GB/T 9546.801-2015
|
电子设备用固定电阻器 第8-1部分:空白详细规范 G等级的表面安装固定电阻器 评定水平EZ
|
|
GB/T 9546.8-2015
|
电子设备用固定电阻器 第8部分:分规范 表面安装固定电阻器
|
|
GB/T 5729-2003
|
电子设备用固定电阻器 第1部分:总规范
|
|
GB/T 17034-1997
|
电子设备用固定电阻器 第2部分;空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平F
|
|
GB/T 17035-1997
|
电子设备用固定电阻器 第4部分;空白详细规范 带散热器的功率型固定电阻器 评定水平H
|
|
GB/T 7338-1996
|
电子设备用固定电阻器 第6部分;分规范 各电阻器可单独测量的固定电阻网络
|
|
GB/T 15654-1995
|
电子设备用膜固定电阻网络 第1部分:总规范
|
|
GB/T 15882-1995
|
电子设备用膜固定电阻网络 第2部分;按能力批准程序评定质量的膜电阻网络分规范
|
|
GB/T 15883-1995
|
电子设备用膜固定电阻网络 第2部分;按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E
|
|
GB/T 15884-1995
|
电子设备用固定电阻器 第5部分;空白详细规范: 精密固定电阻器 评定水平 F
|
|
GB/T 15885-1995
|
电子设备用固定电阻器 第4部分;空白详细规范: 功率型固定电阻器 评定水平 F
|
|
GB/T 9546-1995
|
电子设备用固定电阻器 第8部分:分规范:片式固定电阻器
|
|
GB/T 5729-1994
|
电子设备用固定电阻器 第一部分:总规范
|
|
GB/T 9547-1994
|
电子设备用固定电阻器 第八部分:空白详细规范:片式固定电阻器 评定水平E
|
|
GB/T 12777-1991
|
金属波纹管膨胀节通用技术条件
|
|
GB/T 12276-1990
|
电子设备用固定电阻器 第7部分:分规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 (可供认证用)
|
|
GB/T 12277-1990
|
电子设备用固定电阻器 第7部分:空白详细规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平E (可供认证用)
|
|
GB/T 7339-1987
|
电子设备用固定电阻器 第6部分:空白详细规范:阻值和功耗相同,各电阻器可单独测量的固定电阻网络 评定
|
|
GB/T 7340-1987
|
电子设备用固定电阻器 第6部分:空白详细规范:阻值和功耗不同,各电阻器可单独测量的固定电阻网络 评定
|
|
GB/T 7016-1986
|
固定电阻器电流噪声测量方法
|
|
GB/T 7017-1986
|
电阻器非线性测量方法
|
|
GB/T 5730-1985
|
电子设备用固定电阻器 第2部分:分规范:低功率非线绕固定电阻器 (可供认证用)
|
|
GB/T 5731-1985
|
电子设备用固定电阻器 第2部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器 评定水平E (可供认证用)
|
|
GB/T 5732-1985
|
电子设备用固定电阻器 第4部分:分规范:功率型固定电阻器 (可供认证用)
|
|
GB/T 5733-1985
|
电子设备用固定电阻器 第4部分:空白详细规范:功率型固定电阻器 评定水平E (可供认证用)
|
|
GB/T 5734-1985
|
电子设备用固定电阻器 第5部分:分规范:精密固定电阻器 (可供认证用)
|
|
GB/T 5735-1985
|
电子设备用固定电阻器 第5部分:空白详细规范:精密固定电阻器 评定水平E (可供认证用)
|
|
GB/T 14217-1993
|
电容器纸介损耗因数(tanδ)测定法
|
|
GB/T 6346.1-2024
|
电子设备用固定电容器 第1部分：总规范
|
|
GB/T 6346.14-2023
|
电子设备用固定电容器 第14部分：分规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器
|
|
GB/T 6346.24-2021
|
电子设备用固定电容器 第24部分：分规范 表面安装导电聚合物固体电解质钽固定电容器
|
|
GB/T 6346.2501-2018
|
电子设备用固定电容器 第25-1部分：空白详细规范 表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器 评定水平EZ
|
|
GB/T 6346.25-2018
|
电子设备用固定电容器 第25部分：分规范 表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器
|
|
GB/T 6346.26-2018
|
电子设备用固定电容器 第26部分：分规范导电高分子固体电解质铝固定电容器
|
|
GB/T 6346.2601-2018
|
电子设备用固定电容器 第26-1部分：空白详细规范 导电高分子固体电解质铝固定电容器 评定水平EZ
|
|
GB/T 6346.1101-2015
|
电子设备用固定电容器 第11-1部分：空白详细规范 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ
|
|
GB/T 6346.11-2015
|
电子设备用固定电容器 第11部分:分规范 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器
|
|
GB/T 6346.1401-2015
|
电子设备用固定电容器 第14-1部分：空白详细规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器 评定水平D
|
|
GB/T 6346.14-2015
|
电子设备用固定电容器 第14部分：分规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器
|
|
GB/T 6346.301-2015
|
电子设备用固定电容器 第3-1部分：空白详细规范 表面安装MnO2固体电解质钽固定电容器 评定水平EZ
|
|
GB/T 6346.3-2015
|
电子设备用固定电容器 第3部分:分规范 表面安装MnO2固体电解质钽固定电容器
|
|
GB/T 14579-2013
|
电子设备用固定电容器 第17部分:分规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器
|
|
GB/T 14580-2013
|
电子设备用固定电容器 第17-1部分：空白详细规范金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器 评定水平E和EZ
|
|
GB/T 15448-2013
|
电子设备用固定电容器 第19部分：分规范 表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器
|
|
GB/T 16467-2013
|
电子设备用固定电容器 第19-1部分：空白详细规范表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ
|
|
GB/T 10188-2013
|
电子设备用固定电容器 第13部分：分规范 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器
|
|
GB/T 10189-2013
|
电子设备用固定电容器 第13-1部分：空白详细规范 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E和EZ
|
|
GB/T 17207-2012
|
电子设备用固定电容器 第18-1部分：空白详细规范 表面安装固体(MnO2)电解质铝固定电容器 评定水平EZ
|
|
GB/T 10185-2012
|
电子设备用固定电容器 第7部分：分规范 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器
|
|
GB/T 10186-2012
|
电子设备用固定电容器 第7-1部分：空白详细规范 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E
|
|
GB/T 10190-2012
|
电子设备用固定电容器 第16部分：分规范 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器
|
|
GB/T 5969-2012
|
电子设备用固定电容器 第9-1部分:空白详细规范 2类瓷介固定电容器 评定水平 EZ
|
|
GB/T 7333-2012
|
电子设备用固定电容器 第2-1部分：空白详细规范 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质 直流固定电容器 评定水平E和EZ
|
|
GB/T 10191-2011
|
电子设备用固定电容器 第16-1部分:空白详细规范 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E和EZ
|
|
GB/T 5966-2011
|
电子设备用固定电容器 第8部分：分规范 1类瓷介固定电容器
|
|
GB/T 5967-2011
|
电子设备用固定电容器 第8-1部分:空白详细规范 1类瓷介固定电容器 评定水平EZ
|
|
GB/T 5968-2011
|
电子设备用固定电容器 第9部分：分规范 2类瓷介固定电容器
|
|
GB/T 7332-2011
|
电子设备用固定电容器 第2部分：分规范 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器
|
|
GB/T 21038-2007
|
电子设备用固定电容器 第21-1部分：空白详细规范 表面安装用1类多层瓷介固定电容器 评定水平EZ
|
|
GB/T 21040-2007
|
电子设备用固定电容器 第22-1部分：空白详细规范 表面安装用2类多层瓷介固定电容器 评定水平EZ
|