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收录标准: 222550 (2026-05-23) 搜索

GB/T 47080-2026 相关标准英文版PDF

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GB/T 47080-2026 179 GB/T 47080-2026 [PDF]天数 <=3 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法
   
基本信息
标准编号 GB/T 47080-2026 (GB/T47080-2026)
中文名称 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法
英文名称 Test method for dislocation density of diamond single crystal polished wafer
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 H17
国际标准分类 77.040
发布日期 2026-01-28
实施日期 2026-08-01

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