SJ/T 11706-2018 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ/T 11706-2018 | 669 | SJ/T 11706-2018 | [PDF]天数 <=7 | 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 11706-2018 (SJ/T11706-2018) |
| 中文名称 | 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 |
| 英文名称 | Semiconductor integrated circuits test methodof field programmable gate array |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L55 |
| 字数估计 | 29,231 |
| 发布日期 | 2018-02-09 |
| 实施日期 | 2018-04-01 |
| 标准依据 | 工业和信息化部公告2018年第10号 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（FieldProgrammableGateArray，以下简称FPGA）的电参数测试方法。 |
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