SJZ11352-2006 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ/Z 11352-2006 | 1519 | SJ/Z 11352-2006 | [PDF]天数 <=6 | 集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/Z 11352-2006 (SJ/Z11352-2006) |
| 中文名称 | 集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范 |
| 英文名称 | Integrated circuit IP core test data interchange formats and guidelines specification |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L56 |
| 国际标准分类 | 31.200 |
| 字数估计 | 38,324 |
| 发布日期 | 2006-09-26 |
| 实施日期 | 2006-12-01 |
| 标准依据 | 行标公告2006年第11号(总第83号) |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本规范为集成电路IP核(Intellectual Property Core, 以下简称为IP)的提供者制定了测试数据交换格式和可测性设计(DFT, Design-for-Test)指导原则。制定本规范的目的是定义IP提供者和IP集成方之间传递信息的格式和性质。此外, 本规范还为IP提供者制定了一些指导原则, 以确保IP能用于系统芯片的设计。数据格式的适用范围涵盖了集成电路中IP创建、定义、交换和集成的描述。 |
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