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GB 6622-1986 相关标准英文版PDF

搜索结果: GB 6622-1986, GB6622-1986
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GB 6622-1986 英文版 199 GB 6622-1986 [PDF]天数 <=3 硅化学抛光片漩涡缺陷和条纹的测试方法 GB 6622-1986 作废
基本信息
标准编号 GB 6622-1986 (GB6622-1986)
中文名称 硅化学抛光片漩涡缺陷和条纹的测试方法
英文名称 Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers
行业 国家标准
中标分类 H26
字数估计 4,479
发布日期 7/26/1986
实施日期 7/1/1987
采用标准 ASTM F416-1981, IDT

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英文网页English: GB 6622-1986

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