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标准号码 |
标准名称 |
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GB/T 3655-2022
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用爱泼斯坦方圈测量电工钢带(片)磁性能的方法
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GB/T 3656-2022
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电磁纯铁及软磁合金矫顽力的抛移测量方法
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GB/T 3658-2022
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软磁金属材料和粉末冶金材料20Hz～100kHz频率范围磁性能的环形试样测量方法
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GB/T 41079.2-2022
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液态金属物理性能测定方法 第2部分：电导率的测定
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GB/T 41751-2022
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氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法
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GB/T 41765-2022
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碳化硅单晶位错密度的测试方法
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GB/T 42161-2022
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磷酸铁锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法
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GB/T 42260-2022
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磷酸铁锂电化学性能测试 循环寿命测试方法
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GB/T 42271-2022
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半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
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GB/T 39861-2021
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锰酸锂电化学性能测试 放电平台容量比率及循环寿命测试方法
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GB/T 39864-2021
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锰酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法
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GB/T 5162-2021
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金属粉末 振实密度的测定
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GB/T 19346.3-2021
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非晶纳米晶合金测试方法 第3部分：铁基非晶单片试样交流磁性能
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GB/T 14146-2021
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硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法
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GB/T 1551-2021
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硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
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GB/T 21227-2021
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交流损耗测量 多丝复合超导材料磁滞损耗的磁强计测量法
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GB/T 40007-2021
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纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则
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GB/T 1425-2021
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贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法
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GB/T 15078-2021
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贵金属电触点材料接触电阻的测量方法
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GB/T 24488-2021
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镁合金牺牲阳极电化学性能测试方法
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GB/T 40279-2021
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硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法
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GB/T 40296-2021
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实用超导线 铌-钛（Nb-Ti）与铌三锡（Nb3Sn）复合超导体的扭距测量方法
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GB/T 40320-2021
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铝合金力学熔点测试方法
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GB/T 40380.1-2021
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金属粉末 高温时松装密度和流速的测定 第1部分：高温时松装密度的测定
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GB/T 40380.2-2021
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金属粉末 高温时松装密度和流速的测定 第2部分：高温时流速的测定
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GB/T 41079.1-2021
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液态金属物理性能测定方法 第1部分：密度的测定
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GB/T 41155-2021
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烧结金属材料（不包括硬质合金） 疲劳试样
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GB/T 8643-2021
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含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定 索格利特（Soxhlet）萃取法
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GB/T 23605-2020
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钛合金β转变温度测定方法
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GB/T 38786-2020
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镁及镁合金铸锭纯净度检验方法
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GB/T 38804-2020
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金属材料高温蒸汽氧化试验方法
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GB/T 5252-2020
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锗单晶位错密度的测试方法
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GB/T 8763-2020
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非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法
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GB/T 38980-2020
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锆管探伤对比试样人工缺陷尺寸测量方法
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GB/T 39042-2020
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电工钢单片磁性能测试 H线圈法
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GB/T 8760-2020
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砷化镓单晶位错密度的测试方法
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GB/T 25897-2020
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剩余电阻比测量 铌-钛（Nb-Ti）和铌三锡（Nb3Sn）复合超导体剩余电阻比测量
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GB/T 351-2019
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金属材料 电阻率测量方法
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GB/T 19289-2019
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电工钢带（片）的电阻率、密度和叠装系数的测量方法
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GB/T 37561-2019
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难熔金属及其化合物粉末在粒度测定之前的分散处理规则
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GB/T 10129-2019
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电工钢带（片）中频磁性能测量方法
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GB/T 18502-2018
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临界电流测量 银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223氧化物超导体的直流临界电流
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GB/T 22586-2018
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电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
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GB/T 11107-2018
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金属及其化合物粉末 比表面积和粒度测定 空气透过法
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GB/T 36705-2018
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氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法
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GB/T 5167-2018
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烧结金属材料和硬质合金 电阻率的测定
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GB/T 1550-2018
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非本征半导体材料导电类型测试方法
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GB/T 19921-2018
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硅抛光片表面颗粒测试方法
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GB/T 26068-2018
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硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
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GB/T 37201-2018
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镍钴锰酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法
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GB/T 37207-2018
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镍钴锰酸锂电化学性能测试 放电平台容量比率及循环寿命测试方法
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GB/T 37213-2018
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硅晶锭尺寸的测定 激光法
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GB/T 2522-2017
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电工钢带(片)涂层绝缘电阻和附着性测试方法
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GB/T 19346.1-2017
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非晶纳米晶合金测试方法 第1部分：环形试样交流磁性能
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GB/T 8753.1-2017
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铝及铝合金阳极氧化氧化 膜封孔质量的评定方法 第1部分：酸浸...
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GB/T 33908-2017
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铝电解质初晶温度测定技术规范
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GB/T 19346.2-2017
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非晶纳米晶合金测试方法 第2部分：带材叠片系数
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GB/T 34190-2017
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电工钢表面涂层的重量（厚度） X射线光谱测试方法
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GB/T 34210-2017
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蓝宝石单晶晶向测定方法
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GB/T 34482-2017
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建筑用铝合金隔热型材传热系数测定方法
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GB/T 34612-2017
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蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
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GB/T 4104-2017
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直接法氧化锌白度检验方法
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GB/T 22587-2017
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基体与超导体体积比测量铜-铌钛(Cu/Nb-Ti)复合超导线铜-超［体积］比的测量
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GB/T 32791-2016
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铜及铜合金导电率涡流测试方法
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GB/T 31474-2015
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电子装联高质量内部互连用助焊剂
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GB/T 31475-2015
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电子装联高质量内部互连用焊锡膏
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GB/T 31476-2015
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电子装联高质量内部互连用焊料
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GB/T 31522-2015
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基体与超导体体积比测试 Nb(3)Sn复合超导线铜与非铜体积比
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GB/T 31527-2015
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力学性能测量 NbTi/Cu复合超导线室温拉伸试验方法
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GB/T 31780-2015
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临界温度测量 电阻法测复合超导体临界温度
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GB/T 32188-2015
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氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
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GB/T 32189-2015
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氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
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GB/T 32278-2015
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碳化硅单晶片平整度测试方法
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GB/T 32280-2015
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硅片翘曲度测试 自动非接触扫描法
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GB/T 32282-2015
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氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法
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GB/T 30537-2014
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超导电性 块状高温超导体的测量 大晶粒氧化物超导体的俘获磁通密度
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GB/T 30653-2014
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Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法
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GB/T 30654-2014
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Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法
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GB/T 30655-2014
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氮化物LED外延片内量子效率测试方法
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GB/T 30857-2014
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蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法
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GB/T 30859-2014
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太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
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GB/T 30860-2014
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太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
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GB/T 30869-2014
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太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
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GB/T 31352-2014
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蓝宝石衬底片翘曲度测试方法
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GB/T 31353-2014
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蓝宝石衬底片弯曲度测试方法
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GB/T 30140-2013
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磁性材料在低频磁场中屏蔽效能的测量方法
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GB/T 28871-2012
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铌三锡(Nb3Sn)复合超导体的直流临界电流测量
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GB/T 25897-2010
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超导电性：铌-钛复合超导体剩余电阻比测定
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GB/T 6146-2010
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精密电阻合金电阻率测试方法
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GB/T 24271-2009
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热双金属条形元件技术条件
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GB/T 24272-2009
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热双金属平螺旋形元件机械转矩率试验方法
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GB/T 24297-2009
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热双金属螺旋形元件热偏转率试验方法
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GB/T 24298-2009
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热双金属横向弯曲试验方法
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GB/T 24299-2009
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热双金属碟形元件机械寿命试验方法
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GB/T 24488-2009
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镁合金牺牲阳极电化学性能测试方法
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GB/T 13012-2008
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软磁材料直流磁性能的测量方法
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GB/T 13789-2008
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用单片测试仪测量电工钢片(带)磁性能的方法
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GB/T 21546-2008
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铌钛复合超导体的直流临界电流测量
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GB/T 22586-2008
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高温超导薄膜微波表面电阻测试
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GB/T 22587-2008
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基体与超导体体积比测量 Cu/Nb-Ti复合超导体 铜-超[体积]比的测量
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