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标准号码 |
标准名称 |
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GB/T 2523-2008
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冷轧金属薄板(带)表面粗糙度和峰值数测量方法
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GB/T 3651-2008
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金属高温导热系数测量方法
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GB/T 3655-2008
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用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法
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GB/T 3656-2008
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软磁材料矫顽力的抛移测量方法
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GB/T 3658-2008
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软磁材料交流磁性能环形试样的测量方法
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GB/T 4339-2008
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金属材料热膨胀特征参数的测定
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GB/T 8364-2008
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热双金属热弯曲试验方法
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GB/T 20831-2007
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电工钢片(带)层间绝缘涂层温度特性测试方法
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GB/T 21115-2007
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块状氧化物超导体磁浮力的测量
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GB/T 21227-2007
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交流损耗测量 Cu/Nb-Ti多丝复合线磁滞损耗的磁强计测量法
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GB/T 2522-2007
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电工钢片(带)表面绝缘电阻、涂层附着性测试方法
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GB/T 5163-2006
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烧结金属材料(不包括硬质合金) 可渗性烧结金属材料 密度、含油率和开孔率的测定
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GB/T 5162-2006
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金属粉末 振实密度的测定
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GB/T 6147-2005
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精密电阻合金热电动势率测试方法
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GB/T 6148-2005
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精密电阻合金电阻温度系数测试方法
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GB/T 8753.1-2005
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铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第1部分:无硝酸预浸的磷铬酸法
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GB/T 8753.2-2005
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铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第2部分:硝酸预浸的磷铬酸法
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GB/T 8753.3-2005
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铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第3部分:导纳法
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GB/T 8753.4-2005
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铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第4部分:酸处理后的染色斑点法
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GB/T 4107-2004
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镁粉松装密度的测定 斯科特容量法
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GB/T 4108-2004
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镁粉和铝镁合金粉粒度组成的测定 干筛分法
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GB/T 19289-2003
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电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法
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GB/T 4104-2003
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直接法氧化锌白度(颜色)检验方法
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GB/T 5985-2003
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热双金属弯曲常数测量方法
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GB/T 6524-2003
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金属粉末 粒度分布的测量 重力沉降光透法
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GB/T 8364-2003
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热双金属比弯曲试验方法
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GB/T 8643-2002
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含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定 修正的索格利特(Soxhlet) 萃取法
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GB/T 18036-2000
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铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法
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GB/T 3655-2000
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用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法
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GB/T 5986-2000
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热双金属弹性模量试验方法
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GB/T 4067-1999
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金属材料电阻温度特征参数的测定
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GB/T 4339-1999
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金属材料热膨胀特征参数的测定
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GB/T 6608-1999
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铝箔厚度的测定 称量法
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GB/T 17473.2-1998
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厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
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GB/T 17473.3-1998
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厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
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GB/T 5166-1998
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烧结金属材料和硬质合金弹性模量测定
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GB/T 1553-1997
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硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
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GB/T 1555-1997
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半导体单晶晶向测定方法
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GB/T 1558-1997
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硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
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GB/T 17103-1997
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金属材料定量极图的测定
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GB/T 1423-1996
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贵金属及其合金密度的测试方法
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GB/T 1424-1996
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贵金属及其合金材料电阻系数测试方法
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GB/T 1425-1996
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贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法
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GB/T 16595-1996
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晶片通用网格规范
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GB/T 16596-1996
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确定晶片坐标系规范
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GB/T 1480-1995
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金属粉末粒度组成的测定 干筛分法
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GB/T 1551-1995
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硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
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GB/T 1552-1995
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硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
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GB/T 1555.7-1995
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固体废物--六价铬的测定 硫酸亚铁铵滴定法
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GB/T 351-1995
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金属材料电阻系数测量方法
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GB/T 6616-1995
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半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层 电阻测定 非接触涡流法
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GB/T 6617-1995
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硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
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GB/T 6618-1995
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硅片厚度和总厚度变化测试方法
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GB/T 6619-1995
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硅片弯曲度测试方法
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GB/T 6620-1995
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硅片翘曲度非接触式测试方法
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GB/T 6621-1995
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硅抛光片表面平整度测试方法
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GB/T 6624-1995
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硅抛光片表面质量目测检验方法
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GB/T 15077-1994
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贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法
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GB/T 15078-1994
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贵金属电触点材料接触电阻的测量方法
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GB/T 14140.2-1993
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硅片直径测量方法 千分尺法
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GB/T 14140-1993
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硅片直径测量方法
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GB/T 14141-1993
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硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定
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GB/T 14146-1993
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硅外延层载流子浓度测定和探针电容--电压法
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GB/T 14201-1993
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铁矿球团抗压强度测定方法
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GB/T 14202-1993
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铁矿石(烧结矿、球团矿)容积密度测定方法
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GB/T 14453-1993
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金属材料高温弹性模量测量方法 圆盘振子法
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GB/T 14847-1993
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重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
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GB/T 5482-1993
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金属材料动态撕裂试验方法
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GB/T 13387-1992
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电子材料晶片参考面长度测量方法
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GB/T 13388-1992
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硅片参考面结晶学取向X射线测量方法
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GB/T 13389-1992
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掺硼碜磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
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GB/T 13390-1992
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金属粉末比表面积的测定 氮吸附法
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GB/T 13789-1992
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单片电工钢片(带)磁性能测量方法
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GB/T 3655-1992
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电工钢片(带)磁、电物理性能测量方法
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GB/T 12966-1991
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铝合金电导率涡流测试方法
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GB/T 12967.1-1991
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铝及铝合金阳极氧化 用喷磨试验仪测定阳极氧化膜的平均耐磨性
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GB/T 12968-1991
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纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法
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GB/T 13012-1991
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钢材直流磁性能测量方法
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GB/T 13220-1991
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细粉末粒度分布的测定 声波筛分法
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GB/T 13221-1991
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超细粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法
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GB/T 13300-1991
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高电阻电热合金快速寿命试验方法
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GB/T 13301-1991
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金属材料电阻应变灵敏系数试验方法
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GB/T 13303-1991
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钢的抗氧化性能测定方法
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GB/T 2105-1991
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金属材料杨氏模量、切变模量及泊松比测量方法(动力学法)
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GB/T 2523-1990
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冷轧薄钢板(带)表面粗糙度测量方法
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GB/T 3658-1990
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软磁合金交流磁性能测量方法
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GB/T 1557-1989
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硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
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GB/T 11068-1989
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砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
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GB/T 11073-1989
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硅片径向电阻率变化的测量方法
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GB/T 10562-1989
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金属材料超低膨账系数测定方法 光干涉法
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GB/T 11107-1989
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金属及其化合物粉末 比表面积和粒度测定 空气透过法
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GB/T 11108-1989
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硬质合金热扩散率的测定方法
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GB/T 11110-1989
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铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜的封孔质量的测定方法 导纳法
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GB/T 11111-1989
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钨丝电阻连续测量方法
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GB/T 11112-1989
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有色金属大气腐蚀试验方法
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GB/T 10122-1988
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铁矿石 (烧结矿、球团矿) 物理试验用试样的取样和制样方法
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GB/T 10129-1988
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电工钢片 (带) 中频磁性能测量方法
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GB/T 2522-1988
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电工钢片(带)层间电阻、涂层附着性叠装系数测试方法
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GB/T 8643-1988
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含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定索格利特(Soxhlet)萃取法
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GB/T 8754-1988
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铝及铝合金阳极氧化-应用击穿电位测定法检验绝缘性
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