SJH 2354.13-1983 相关标准英文版PDF

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SJ 2354.13-1983	英文版	199	SJ 2354.13-1983	[PDF]天数 <=2	雪崩光电二极管倍增因子的测试方法	SJ 2354.13-1983	作废

基本信息
标准编号	SJ 2354.13-1983 (SJ2354.13-1983)
中文名称	雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
英文名称	Method of measurement for multiplication factor of PIN and avalanche photodiodes
行业	电子行业标准
中标分类	L53
国际标准分类	31.26
字数估计	1,142
发布日期	8/15/1983
实施日期	7/1/1984
标准依据	工业和信息化部公告(2015年第28号); 工科(2010)第77号
范围	本标准适用于雪崩光电二极管倍增因子的测试。

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